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Autor/inn/enWang, Xiaohui; Bradlow, Eric T.; Wainer, Howard
TitelA General Bayesian Model for Testlets: Theory and Applications.
QuelleIn: Applied Psychological Measurement, 26 (2002) 1, S.109-28Verfügbarkeit 
Spracheenglisch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN0146-6216
SchlagwörterBayesian Statistics; Item Response Theory; Markov Processes; Mathematical Models; Monte Carlo Methods; Simulation
AbstractProposes a modified version of commonly employed item response models in a fully Bayesian framework and obtains inferences under the model using Markov chain Monte Carlo techniques. Demonstrates use of the model in a series of simulations and with operational data from the North Carolina Test of Computer Skills and the Test of Spoken English (Educational Testing Service). (SLD)
Erfasst vonERIC (Education Resources Information Center), Washington, DC
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