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Literaturnachweis - Detailanzeige

 
Autor/inn/enMeijer, Rob R.; Sijtsma, Klaas
TitelDetection of Aberrant Item Score Patterns: A Review of Recent Developments.
QuelleIn: Applied Measurement in Education, 8 (1995) 3, S.261-72Infoseite zur ZeitschriftVerfügbarkeit 
Spracheenglisch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN0895-7347
SchlagwörterIdentification; Item Response Theory; Nonparametric Statistics; Patterns in Mathematics; Scores; Test Items
AbstractMethods for detecting item score patterns that are unlikely, given that a parametric item response theory model gives an adequate description of the data or given the responses of other persons in the group, are discussed. The use of person-fit statistics in empirical data analysis is briefly discussed. (SLD)
Erfasst vonERIC (Education Resources Information Center), Washington, DC
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