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Literaturnachweis - Detailanzeige

 
Autor/inn/enClaußen, Thomas; Bergmann, Antje
TitelEinsatz eines Rasterkraftmikroskops in der Schule.
QuelleIn: Praxis der Naturwissenschaften - Physik in der Schule, 64 (2015) 3, S. 24-28Verfügbarkeit 
Sprachedeutsch
Dokumenttypgedruckt; Zeitschriftenaufsatz
ISSN0177-8374; 1617-5689
SchlagwörterSekundarstufe II; Nanotechnologie; Rasterkraftmikroskopie; Nanophysik; Physikunterricht
AbstractEin wichtiges Instrument im Bereich der Nanotechnologie ist das Rasterkraftmikroskop (AFM = atomic force microscope). Mit einem AFM können Oberflächenstrukturen mit einer Auflösung im Nanometerbereich abgetastet werden, es übersteigt damit das Auflösungsvermögen von Lichtmikroskopen deutlich. In diesem Artikel werden der Aufbau und die Funktionsweise eines einfachen und für den Schulbetrieb geeigneten Rasterkraftmikroskops erläutert. Es wird aus Erfahrungen mit dem AFM in einem Schülerlabor berichtet und es werden Hinweise für die Integration des Themas Rasterkraftmikroskpie in den Physikunterricht der Sekundarstufe II gegeben.
Erfasst vonPhysikdidaktik, TU Braunschweig
Update2016/2
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